13397103401

免费服务热线

奥林巴斯产品

您现在所在的位置: 首页 >产品中心 > 奥林巴斯产品

测厚仪(45MG)

测厚仪(45MG)

45MG超声测厚仪:

操作简便、坚固耐用、性能可靠

45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容,是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器,可用于几乎所有测厚应用。

标准功能

45MG仪器在使用基本配置时,是一款易懂易学、操作简便的测厚仪,操作人员经过最基本的培训,就可完成最常用的测厚应用。不过,45MG仪器添加了可选软件选项和探头后,就会变成一款极为高级的测厚仪,可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外,大多数选项可以在购买仪器时分别购买,或在日后需要时购买。

  1. 与所有Olympus双晶探头兼容,可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量
  2. 最小值/最大值模式
  3. 两个报警模式
  4. 差值模式
  5. 时基B扫描
  6. 缩减率
  7. 增益调整(标准、高、低)
  8. 密码式仪器锁定

带有可选橡胶保护套和支架的45MG仪器

抵御恶劣环境的能力

  1. 坚固耐用,设计符合IP67标准。
  2. 爆炸性气氛:可在国家防火协会规范(NFPA 70500I2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作,并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。
  3. 防撞击测试:通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试,每轴6个循环,15 g11 msec半弦波。
  4. 防振动测试:通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C6中的测试,一般暴露:每轴1小时。
  5. 宽泛的操作温度范围
  6. 可选的带有支架的橡胶保护套

简便操作的设计理念

  1. 可只用右手或左手操作的简洁的键区
  2. 可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面
  3. 使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式
  4. USB通讯端口
  5. 可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器
  6. 默认或自定义单晶探头设置(可选)
  7. 密码保护方式的仪器锁定
  8. 彩色透反QVGA显示,带有室内和室外颜色设置,具有极佳的清晰度


可选功能

只需几次按键,即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项,从而跻身于工业领域中用途最广泛的测厚仪行列。

回波到回波/穿透涂层:使用回波到回波选项,仪器屏幕上会显示金属的实际厚度,而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度,这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,在进行厚度测量时,无需去掉材料表面的漆层或涂层。

单晶: 这个选项可对很多材料,如:金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷,进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。

单晶高穿透:这个选项可对较厚或衰减性较高的材料,如:玻璃纤维或铸造金属,进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。

数据记录器:45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于WindowsGageView接口程序。

带有波形调整功能的实时A扫描: 用户使用这个可选实时A扫描模式,可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形(或称A扫描),核查厚度测量读数,对增益和空白设置进行手动调整,以在具有挑战性的应用中最大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首个回波空白、范围及延迟参数。

室内显示设置,可选A扫描模式

室外显示设置,可选A扫描模式

使用双晶探头对腐蚀工件进行测量

45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的剩余厚度。这些应用中最常使用的是双晶探头。

  1. 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能
  2. 当校准过程中出现双回波时,会发出双回波警告
  3. 回波到回波/穿透涂层选项可测量带有漆层和涂层的表面
  4. 高温测量:温度可高达500 °C

B扫描成像(基于时间)

45MG仪器提供的B扫描功能,可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。在观察材料厚度在一定距离上发生的变化时,这个标准功能非常有用。探头一接触到材料表面,就会激活B扫描。冻结最小值功能用于显示扫查区域的最小厚度值。可选45MG数据记录器最多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。

室内显示设置,B扫描模式

回波到回波/穿透涂层选项

回波到回波

测厚仪使用多个底面回波,显示不计涂层厚度的实际金属厚度:

  1. 自动回波到回波
  2. 手动回波到回波(仅出现于A扫描选项),可进行以下操作:
  1. 增益调整
  2. 扩展空白
  3. 回波空白

显示A扫描的自动回波到回波模式

调整第一个回波空白的手动回波到回波模式

高温表面

45MG测厚仪配上D932系列探头(D790D790­-SMD790-RLD790-SL),是测量高温材料(温度高达500 ºC)的理想选择,并可获得稳定的厚度读数。45MG的零位补偿功能,通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化,提高了在高温表面上进行测量的精确性。

穿透涂层技术

使用单个底面回波测量金属的实际厚度。使用这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度。这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,要得到金属的厚度,无需去掉表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SMD7906-RMD7908双晶探头。

显示涂层厚度和钢材料厚度的穿透涂层模式(波形选项未被激活)

显示可选波形的穿透涂层模式

使用单晶探头对工件进行精确测量

对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量

使用单晶探头

用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我们提供各种频率、直径和连接器类型的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用,则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。

  1. 在使用频率范围为2.25 MHz30 MHz的单晶探头时,单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米(0.0001英寸)的测量值。
  2. 高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
  3. 测量厚度、声速或渡越时间。
  4. 自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作。

单晶软件选项

用户使用单晶软件选项,可以完成分辨率高达0.001毫米或0.0001英寸的极为精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。

  1. 大多数薄材料和厚材料
  2. 壁厚薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
  3. 壁厚薄如0.10毫米(0.004英寸)的金属容器、钢圈板、机加工部件
  4. 汽缸孔、涡轮叶片
  5. 玻璃灯泡、瓶子
  6. 薄壁玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
  7. 曲面部分或内圆角半径较小的容器

高穿透软件选项可以对很多铸造金属部件及声波衰减性极强的材料进行测量。

应用设置调用

应用设置调用功能简化了厚度测量操作。用户在选择了任何一个存储探头后,45MG测厚仪即会调出所有与这个内置探头相关的参数。

存储的标准设置

45MG仪器带有21个标准单晶探头设置,可用于最常用的测量操作。这些默认探头设置可用于各种各样的厚度测量应用。

存储的自定义设置

45MG还可存储最多35个自定义单晶探头的设置,其中还包括校准信息。用户可以连接适当的探头,并调用设置文件,然后仪器便可进行厚度测量,甚至还可完成最复杂的测厚应用。

材料声速测量

45MG仪器可以测量材料的声速。在材料声速与其它属性密切相关的应用中,这个标准功能非常有用。典型的应用包括监控铸造金属的球化程度,以及监控复合材料/玻璃纤维的密度变化。

缩减率测量

差值模式和缩减率模式是45MG的标准功能。差值模式显示实际厚度与预先设定的厚度值之间的差异。缩减率计算并显示材料厚度变薄以后厚度缩减的百分比。对经过弯曲变形并将制成车身面板的薄钢板进行的缩减率测量是一个典型的应用。

使用20 MHz延迟块探头测量薄塑料材料。

使用V260-SM Sonopen探头对薄玻璃进行测量。

测量金属板因弯曲变形而变薄的情况。

可测量包括塑料、金属、橡胶、玻璃、陶瓷及复合材料在内的很多材料的厚度。

正在检测轴承的Sonopen探头

正在检测齿轮的延迟块探头 高尔夫球

单晶高穿透软件选项

用户使用这个选项可在使用低频单晶探头(低到0.5 MHz)的情况下,测量橡胶、玻璃纤维、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。 这个选项包含单晶选项。

  1. 大多数较厚或声音衰减性较强的材料
  2. 厚铸造金属部件
  3. 厚橡胶轮胎、履带
  4. 玻璃纤维船体、储存罐
  5. 复合材料板
  6. 对于频率范围为0.5 MH1.0 MHz的探头,分辨率为0.01毫米(0.001英寸)

技术规格

测量

双晶探头测量模式

从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔。

自动回波到回波(可选)

在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。

穿透涂层测量 (可选)

利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM和D7906探头)

单晶探头测量模式(可选)

模式1:激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。

模式2:延迟块回波与第一个底面回波之间的时间间隔(使用延迟块或水浸式探头)

模式3:在激励脉冲之后,位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟块探头或水浸式探头)。

厚度范围

0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量最全的范围需要使用单晶选项)

材料声速范围

0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)

分辨率(可选择)

低分辨率:0.1毫米(0.01英寸)

标准分辨率:0.01毫米(0.001英寸)

单晶选项:0.001毫米(0.0001英寸)

探头频率范围

标准:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(单晶选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)

一般规格

操作温度范围

-10 °C~50 °C(14 °F~122 °F)

键盘

密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈

机壳

防撞击、防水、装有密封垫的机壳,机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。

外型尺寸(宽 x 高 x 厚)

总体尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm

重量

430.9克

电源

3节AA电池/USB电源供应

电池工作时间

3节AA碱性电池:20到21小时

3节AA镍氢电池:22到23小时

3节AA锂离子电池:35到36小时

标准

设计符合EN15317标准

显示

彩色透反QVGA显示

液晶显示,显示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米

检波

全波、RF波、正半波、负半波(波形选项)

输入/输出

USB

2.0从接口

存储卡

最大容量:2 GB可插拔MicroSD存储卡

内置数据记录器(可选)

数据记录器

45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。

容量

475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形

文件名称和ID编码

32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码

文件结构

6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构

报告

机载报告总结了数据统计和最小值/最大值


上一篇: 测厚仪(38dl)

下一篇: 测厚仪(27MG)